根據世界材料研究所(WMRIF)2015論壇指出，未來創新材料研究方向需要有動態偵測能力，藉由電子顯微鏡與其附屬之配件，可以解析材料的微結構與微化學特徵，進而幫助研發人員探究材料所展現之性質。工研院材化所的前瞻材料基磐技術組長年以來致力於發展電子顯微鏡技術，在臨場穿透式電子顯微鏡之運用上，已累積了相當豐碩的實務經驗。秉持著推廣前瞻檢測技術之精神，本組與捷東公司合作，藉由此次邀請美國國家實驗室(ORNL, Oak Ridge, Tennessee, USA)講座研究員(Dr. Lawrence F. Allard)，其國際論文發表數超過三百篇(詳見附件)，為國際知名學者，此外，並邀請美國知名臨場電鏡公司Protochips之CEO來訪交流相關技術，建立國際合作能量，共同討論現今臨場電鏡軟、硬體發展現況與未來展望，將國際最前端的資訊分享給國內電鏡諸位先進，於104年10月19日(一)舉行「2015多環境型態臨場電子顯微鏡動態即時分析與其於產業應用研討會」，冀望諸位對於電子顯微鏡分析技術感到興趣之產業先進踴躍蒞臨指教。