本研究室利用低電壓球差校正穿透式電子顯微鏡，成功拍攝石墨烯(graphene)原子影像

[ 發佈日期 ] 2014/6/13 上午 11:13:00

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工研院材化所電鏡技術開發與應用研究室，利用低電壓球差校正穿透式電子顯微鏡，成功地拍攝石墨烯(graphene)之原子影像。

本團隊所建置之低電壓球差校正穿透式電子顯微鏡，型號為(JEOL JEM-ARM200F)、配備有電子束球面像差校正器(probe Cs corrector)。

在80kV電壓下，其原子解析度可達136 picometer(pm)，可成功地分辨石墨稀尺度為142pm之碳原子間距，因此可清楚拍攝一個原子層厚度之石墨稀蜂窩狀晶體結構(honeycomb crystal lattice)。

透過高解析之低電壓(＜80kV)顯像能力，對於電子束敏感型材料來說，此項技術可提供清晰且結構完整之原子顯微影像。

 

參考資訊

http://www.emsdiasum.com/microscopy/products/grids/graphene_tem.aspx

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