快速掃描顯微數突破傳統SPM取像過慢的問題,Bruker公司發展高速壓電陶瓷及電子回饋電路加快之特性,搭配高速掃描探針,可使整體AFM取像可達如電鏡(SEM)一般的掃描速度,其技術於動態臨場影像觀察上可提供相當重要的幫助。