原子力顯微鏡中的新穎影像掃描模式
[ 發佈日期 ] 2012/4/23 下午 03:11:00
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有別於傳統AFM所使用的Tapping Mode,此篇論文使用新的掃描模式(Peak Force Mode),以定作用力為回饋機制進行表面高度掃描,其掃描頻率介於2K-8K,使得在掃描的過程中可以同步取得電性訊號,此在原來的Tapping Mode下其作用頻率太快,因此是無法獲得的,在Contact Mode下會有破壞表面的疑慮,在Peak Force Mode下更可精準.快速獲得每個樣品點上的力學圖譜,其由於作用力可控制在很小的範圍,因此很適合量一些很軟的物質,如polymer等,其於未來的軟物質發展上佔有重要的地位。
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