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Low kV imaging –Atomic Structure of Graphene

[ 發佈日期 ] 2014/4/10 上午 12:00:00


內容:

工研院材化所電鏡技術開發與應用研究室,利用低電壓球差校正穿透式電子顯微鏡,成功地拍攝石墨烯(graphene)之原子影像。

本團隊所建置之低電壓球差校正穿透式電子顯微鏡,型號為(JEOL JEM-ARM200F)、配備有電子束球面像差校正器(probe Cs corrector)。

在80kV電壓下,其原子解析度可達136 picometer(pm),可成功地分辨石墨稀尺度為142pm之碳原子間距,因此可清楚拍攝一個原子層厚度之石墨稀蜂窩狀晶體結構(honeycomb crystal lattice)。

透過高解析之低電壓(<80kV)顯像能力,對於電子束敏感型材料來說,此項技術可提供清晰且結構完整之原子顯微影像。

▲Graphene (Single layer standard sample from EMS)

參考資訊

http://www.emsdiasum.com/microscopy/products/grids/graphene_tem.aspx

附件:

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