EMDA ITRI貴儀暨奈米檢測資訊網 :::

新訊分享

:::

以臨場濕式載台分析graphene oxide之XPS能譜

[ 發佈日期 ] 2012/9/18 下午 02:48:00


內容:

傳統XPS需在超高真空下進行分析,但許多分析環境需要發展濕式載台,美國伊利諾及西北大學研究團隊利用differential pumping的真空手法,將濕式載台與超高真空整合於同一平台,以進行相關研究,其優勢於濕式樣品(graphene oxide)不須額外進行乾燥處理,而可以直接臨場觀測其能譜變化。

參考網址:

附件:

EMDA; Dept. of Electron Microscopy Development and Application
工業技術研究院 材化所 版權所有© 2014-2018| 建議瀏覽解析度1024x768以上| 聯絡我們