首頁 > 新訊分享 > 最新訊息 > 訊息內容 請問 XPS可以偵測樣品的深度為多少? [ 發佈日期 ] 2012/7/14 下午 03:08:00 內容: 問題與回應 1. 請問 XPS可以偵測樣品的深度為多少? 回應:一般而言,XPS分析極表面之元素分佈,其偵測訊號來源不超過表面5 nm以上之元素,若想知道更深層的訊號,可配合ion gun sputter分析較底層之訊號。 附件: