動態觀測電子束對銅奈米線之影響
[ 發佈日期 ] 2019/11/25 上午 12:00:00
內容：
與 交大 材料 吳文偉 教授研究團隊合作
在本研究中，本團隊利用高空間解析電子能量損失能譜技術(STEM-EELS)，解析出Cu/ CuO/ Cu2O 層狀結構，定量出各形態氧化銅與成長出的純銅相比，並提出可能的生成機制
刊登於國際重要物理科學期刊：ACS Appl. Mater. Interfaces 2019, 11, 40909−40915
利用高解析EELS 元素分佈解析銅/氧化銅之分界，與高解析影像觀測結構變化。
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