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動態觀測零缺陷銅奈米線成長

[ 發佈日期 ] 2018/12/25 上午 12:00:00


內容:

與 交大 材料 吳文偉 教授研究團隊合作

在本研究中,本團隊利用高空間解析電子能量損失能譜技術(STEM-EELS),解析出Cu/ CuO/ Cu2O 層狀結構,定量出各形態氧化銅與成長出的純銅相比,並提出可能的生成機制。

刊登於國際重要物理科學期刊:Nano Lett. 2018, 18, 778−784

利用高解析EELS 元素分佈解析銅/氧化銅/氧化亞銅,鑑定成過程中形成之機制與內外包覆之現象。

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