首頁 > 新訊分享 > 最新訊息 > 訊息內容 請問表面若有官能基修飾可用哪些分析方式探求而得 [ 發佈日期 ] 2012/11/26 下午 02:59:00 內容： 若表面夠平坦且有電荷分佈，可利用EFM或KFM等SPM技術探知表面電荷情形轉而推得其表面修飾作用結果，若此訊號仍不清楚，可針對所要探知的官能基對探針進行表面修飾，利用已知官能基與樣品的黏滯力，可推測出表面所修飾的官能基分佈情形。 附件：