服務項目

多型態樣品製備服務

包含：定點機械研磨技術、新世代SEM截面樣品製備系統、超薄切片及染色技術、和低溫樣品製備…等。 

快速EM檢測服務(FIB,SEM,TEM)

包含：SEM快速檢測技術(SDD EDS,EBSD,CL)、TEM/EDS快速檢測技術、和FIB樣品製備與電性分析技術…等。

生醫電鏡檢測服務

一般富含水分的生醫樣品，分析方法常需藉由一系列生醫前處理 (滲透、脫水、固定、包埋、切片至上機)或低溫冷凍前處理技術對結構進行保存，最後才能置於高真空電鏡內進行微結構分析。

臨場電鏡服務

於TEM內部營造預先設計之反應情境，並即時對反映中之樣品進行觀測，藉此了解樣品的動態微結構/微化學演變情形。此技術對於探討材料的成形機制、應用作動，以及劣化過程能起到根本上的輔助效果。

三維電鏡斷層掃瞄顯像技術服務

藉由TEM擷取一系列樣品在不同角度下的穿透電子束影像，或是DB-FIB擷取一系列樣品在不同縱深下的斷層影像，而後再搭配數據重建與視覺化技術，建構微/奈米尺度材料特徵之微結構/微化學三維模型。

低電壓次原子解析電鏡服務

球差校正穿透式電子顯微鏡(Cs-TEM)所產生次原子級的電子束尺寸現正廣泛應用於IC相關等重要元件，低電壓次原子解析能譜影像可應用於Graphene等電子束敏感型等前瞻尖端材料。

TAF認證檢測報告

EDMA團隊為完整之檢測硬體與專業之服務團隊，利用先進檢測設備與新穎樣品前處理，建置各類型材料檢測與失效診斷分析之全方位檢測實驗室服務平台─奈米共同實驗室平台，也是經TAF評鑑認可之校正實驗室。

整合性專案服務

包含：協助螢光材料開發上之改良技術…等。