高階材料診斷檢測

檢測分析技術分類及近年發展重點

檢測分析技術細項展開如下：

• Surface Analysis
  • SPM
  • AFM
  • FastScan AFM
  • SNOM
  • Nanoindenter

• Chemical Analysis
  • NMR
  • Raman
  • FTIR
  • FE-AES
  • μ-ESCA
    ICP-MS
  • MALDI
  • LC(QC)-TQ MS
  • AF4

• EM Analysis
  • Cs-(S)TEM
    DB-FIB
  • EF-TEM
  • Cryo-TEM
  • SEM
  • EDS
  • EELS

• X-ray Analysis
  • XRF
  • XCT
  • TF-XRD
  • SAXS

設備建置包含：

• 2018年 DB-FIB
• 2017年 SX ray-CT
• 2016年 XRF、AF4/ICP-M
• 2015年 LC-Triple Q-TOP、GC-Triple Q-TOP

詳細設備功能，請參考「年度重大設備建置」。

技術族譜

彙整高值材化診斷檢測實驗室檢測技術族譜，並依年度標示22套重大檢測設備。