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波長分散式X射線螢光分析儀檢測服務

技術說明

可用於分析樣品元素組成的非破壞性技術,適用於固體、液體、粉末、薄膜等不同樣品形式,透過對樣品進行非破壞性的檢測,可初步而快速地對樣品可能組成進行定性與半定量分析。

機台簡介

Rigaku ZSX Primus IV
  • 功能簡介
    • 分析組成:元素範圍涵蓋4Be~92U;適用於固體、液體、粉末、薄膜等不同樣品形式; 定性、半定量與定量分析;
    • 針對塗層進行膜層厚量測及組成分析;
    • 微區Mapping 掃瞄可作元素分佈圖及使用CCD 試片觀察
  • specification
    • Element range: 4Be - 92U, ppm~100%, wavelength dispersive
    • X-ray tube: Rh target 4kW, max voltage: 60 kV, Be window: 30 µm
    • Sample mask/holder (48sets), automatic sampling
    • Sample size : 51mm(D)x30mm(H),analysis area : max ϕ 30 mm
    • Goniometer: Continuous scan and step scan, crystal: 7 sets
    • Scanning angle range : 5° - 118° (SC), 13° - 148° (F-PC)
  • Micro mapping analysis
    • Elemental mapping analysis and CCD sample observation
    • Moving distance :100 µm (min), analysis size: 500 µm (min)

應用成果

客製化固體粉末快速組成分析,適合分析:多元金屬合金、陶瓷粉末分析

客製化液態樣品快速組成分析,適合分析:水溶液、廢水、液體分析

應用於塑料樣品快速組成分析,適合分析:塑料危害物質成分與濃度分析(Ex.重金屬…)