波長分散式X射線螢光分析儀檢測服務
技術說明
可用於分析樣品元素組成的非破壞性技術，適用於固體、液體、粉末、薄膜等不同樣品形式，透過對樣品進行非破壞性的檢測，可初步而快速地對樣品可能組成進行定性與半定量分析。
機台簡介
Rigaku ZSX Primus IV
- 功能簡介
- 分析組成:元素範圍涵蓋4Be~92U；適用於固體、液體、粉末、薄膜等不同樣品形式; 定性、半定量與定量分析;
- 針對塗層進行膜層厚量測及組成分析;
- 微區Mapping 掃瞄可作元素分佈圖及使用CCD 試片觀察
- specification
- Element range: 4Be - 92U, ppm~100%, wavelength dispersive
- X-ray tube: Rh target 4kW, max voltage: 60 kV, Be window: 30 µm
- Sample mask/holder (48sets), automatic sampling
- Sample size : 51mm(D)x30mm(H),analysis area : max ϕ 30 mm
- Goniometer: Continuous scan and step scan, crystal: 7 sets
- Scanning angle range : 5° - 118° (SC), 13° - 148° (F-PC)
- Micro mapping analysis
- Elemental mapping analysis and CCD sample observation
- Moving distance :100 µm (min), analysis size: 500 µm (min)
應用成果
客製化固體粉末快速組成分析，適合分析:多元金屬合金、陶瓷粉末分析
客製化液態樣品快速組成分析，適合分析:水溶液、廢水、液體分析
應用於塑料樣品快速組成分析，適合分析:塑料危害物質成分與濃度分析(Ex.重金屬…)
