含Surface Analysis、Chemical Analysis、EM Analysis、X-ray Analysis等完整檢測分析。
技術領先之次原子能譜解析能力≦1 Å，可廣泛應用於IC元件及前瞻尖端材料。
即時對反應中樣品進行觀測，了解其動態微結構演變情形。
國內唯一完整整合生醫樣品前處理與低溫電鏡技術平台。